XTD是一款用于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

1. 搭載微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，測量面積達0.03mm²
2. 擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm
3. 核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，準確檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4. 配備高精密微型移動滑臺，可實現(xiàn)多點位、多樣品的準確位移和同時檢測
5. 可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：氯Cl（17）/鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層低檢出限：0.005μm
6. 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
7. 標配2準直器自由選擇，測量面積可達0.03mm²
8. 配有微光聚集技術(shù)，近測距光斑擴散度小于10%

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行業(yè)應用：衛(wèi)浴鍍銅鎳鉻（Cr/Ni/Cu/ABS）

在五金衛(wèi)浴行業(yè)，電鍍的通用方案都會在各類基體上（鋅合金，鋼鐵，鋁合金，銅或銅合金，塑料等）上鍍銅鍍鎳鍍鉻。

衛(wèi)浴行業(yè)的鍍層測試難點主要體現(xiàn)在一下幾個方面

1.樣品結(jié)構(gòu)比較復雜，需要檢測的區(qū)域高低不一。

2.樣品表面的裝飾Cr鍍層一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射線熒光能量較弱，加上在異形件測試中，由于測試高度的變化,Cr熒光能量損耗嚴重，導致測試結(jié)果發(fā)生偏差。

3.塑料基材類的鍍層，由于衛(wèi)浴行業(yè)的特殊需求，鍍銅鍍鎳層一般都很厚，底層的銅層由于Ni層較厚，銅層熒光不能穿透出來被接受，導致銅層無法測試。

4.而較薄的鍍銅鎳鉻產(chǎn)品，在電鍍時，塑料基體的正面和背面都有電鍍，背面的銅鎳的熒光可以輕易穿透基材塑料，從而被儀器接收，造成測試結(jié)果不能反映產(chǎn)品的真實鍍層情況。

自主研發(fā)的XTD系列儀器，采用上照式的設(shè)計結(jié)構(gòu)，加上自動/手動對焦以及變焦功能，輕松應對各種復雜結(jié)構(gòu)的樣品的測試。變焦結(jié)構(gòu)的設(shè)計加上EFP軟件的距離補償算法，自動補償因測試距離變長導致的X射線熒光能量的衰減，測試結(jié)果更加準確。

在檢測報告，可以直觀的看出，XTD可以更好的解決因鎳層過厚導致的銅層無法測試和薄銅鎳樣品因背面鍍層穿透帶來的影響的問題。 

項目   型號	XTD
測量元素范圍	Cl（17）- U（92）
涂鍍層分析范圍	Cl（17）/Li（3）- U（92）
EFP算法	標配
分析軟件	同時分析23個鍍層，24種元素
不同層相同 元素檢測能力	選配
軟件操作	人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
X射線裝置	微聚焦射線管
準直器	Φ0.5mm； Φ0.2mm； 兩準直器任意選擇一種
微光聚焦技術(shù)	近測距光斑擴散度 10%
測量距離	具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm
樣品觀測	1/2.7”彩色CCD，變焦功能
對焦方式	高敏感鏡頭，無感自動對焦
放大倍數(shù)	光學18-46X，數(shù)字放大20-200倍
儀器尺寸	550mm*760mm*635mm
Z軸移動范圍	145mm
樣品臺移動方式	手動XY滑臺
可移動范圍	100mm*150mm
儀器重量	100KG
其他附件	電腦一套、打印機、附件箱、十二元素片、電鍍液測量杯（選配）、標準片（選配）
X射線標準	DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568